手動制御付きの光線炎試験室
This testing machine is mainly used to simulate the thermal stress caused by heat sources or ignition sources such as hot components or overloaded resistors in a short time under fault or overload conditions of electronic and electrical components or parts電気および電子製品,部品,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池家庭用家電スイッチホース,リレーソケットなど
試験基準:
製品名 | タッチスクリーン光線試験装置 |
制御モード | タッチスクリーン制御 |
外部の箱の寸法 | 110*65*125 (cm) |
光線温度 | 室温から1100°Cに調整する |
光線の移動速度 | 10mm/s-25mm/s |
箱の容量 | ≥0.5m3,ガラスの観測ドア |
燃料 | ブタン |
熱対 | 10.0mm ニッケルクロム装甲式 (K型) 輸入熱電偶 |
温度容許の誤差 | 500〜750°C±5°C;750〜960°C±10°C |
輝くワイヤ U型頭 | 4mmの輸入ニッケル/クロム (80/20) ワイヤ |
光線の移動速度 |
手動制御付きの光線炎試験室
This testing machine is mainly used to simulate the thermal stress caused by heat sources or ignition sources such as hot components or overloaded resistors in a short time under fault or overload conditions of electronic and electrical components or parts電気および電子製品,部品,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池,電池家庭用家電スイッチホース,リレーソケットなど
試験基準:
製品名 | タッチスクリーン光線試験装置 |
制御モード | タッチスクリーン制御 |
外部の箱の寸法 | 110*65*125 (cm) |
光線温度 | 室温から1100°Cに調整する |
光線の移動速度 | 10mm/s-25mm/s |
箱の容量 | ≥0.5m3,ガラスの観測ドア |
燃料 | ブタン |
熱対 | 10.0mm ニッケルクロム装甲式 (K型) 輸入熱電偶 |
温度容許の誤差 | 500〜750°C±5°C;750〜960°C±10°C |
輝くワイヤ U型頭 | 4mmの輸入ニッケル/クロム (80/20) ワイヤ |
光線の移動速度 |